激光位移傳感器檢測金屬薄片和薄板的厚度主要利用激光三角法原理。在這種方法中，半導體激光器產(chǎn)生的光束投射到被測物體的表面上產(chǎn)生一光點，光點的一部分散射光（含反射光）通過會聚透鏡成像于CMOS表面。當被測物體沿著激光束方向發(fā)生位置移動時，CMOS表面上的像點也會隨之移動。通過測量這個像點的移動距離，就可以檢測出被測面的移動距離，也就是金屬薄片和薄板的厚度。
在實際操作中，通常在被測體的上方和下方各安裝一個激光位移傳感器。通過測量上面?zhèn)鞲衅鞯奖粶y體之間距離（A）和下面?zhèn)鞲衅鞯奖粶y體之間距離（B），然后結(jié)合兩個傳感器之間的距離（L），就可以計算出被測體的厚度（t = L - (A + B)）。這種測量方式既可以是單點的，也可以是多點的，還可以進行掃描測量。
激光位移傳感器具有非接觸式測量的優(yōu)點，不會對產(chǎn)品造成任何損傷，且測量精度高，能夠滿足對于高精度測量的需求。因此，激光位移傳感器在金屬薄片和薄板的厚度測量中得到了廣泛的應用。
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